First Graphene: Bahnbrechende Entwicklung kündigt sich an

First Graphene (ASX FGR / WKN A2ABY7) ist nicht nur mit der Produktion von Graphit in Sri Lanka beschäftigt, das Unternehmen kümmert sich auch seit langer Zeit schon um die weiteren Möglichkeiten rund um Graphit und das daraus entstehende Graphen. Dabei hat man eine Reihe von Kooperations- und Gesprächspartner gefunden, nicht nur in der industriellen Welt. Auch im akademischen Bereich guckt man sich um, z.B. an der Flinders Universität in Australien.

Mit dem dort ansässigen Institut für Nanowissenschaften und Technologie unter Führung von Professor Colin Raston gründet First Graphene eine neue Gesellschaft, an der beide Seiten jeweils 50 Prozent halten. Die 2D Fluidics Pty Ltd soll die Kommerzialisierung einer besonderen Technologie voranbringen, der Vortex Fluidic Device. Diese Technologie wurde von Raston erfunden. Mit dieser neuen Methode lassen sich verschiedene Materialien herstellen. Dazu zählen Graphen genauso wie lamellierte Kohlenstoff-Nanoröhren. Im Gegensatz zu anderen Methoden werden hier im Herstellungsprozess keine aggressiven oder gar giftigen Chemikalien benötigt.

Die neue Methode ist nicht nur aus Umweltgründen vorteilhafter, sie hat auch bei den Kosten einen klaren Vorteil gegenüber den althergebrachten Varianten. Die Herstellung der Materialien wird deutlich effizienter. Möglich ist all dies dank zweier Patente, die von der Flinders Universität kommen.

Lesen Sie hier den vollständigen Bericht:

First Graphene: Bahnbrechende Entwicklung kündigt sich an

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JPK berichtet über den Einsatz der CellHesion®- und NanoWizard®-Rasterkraftmikroskope am London Centre for Nanotechnology zur Untersuchung der mechanischen Eigenschaften von Zellen und Geweben

JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten für den "Life Sciences"- und "Soft Matter"-Bereich, berichtet über den Einsatz der CellHesion®- und NanoWizard®-Rasterkraftmikroskope (engl. Atomic Force Microscope – AFM) in der Forschungsgruppe von Professor Guillaume Charras am London Centre for Nanotechnology. Die Gruppe setzt Rasterkraftmikrokopie ein, um die grundlegenden mechanischen Eigenschaften von Zellen und Geweben zu verstehen.

Professor Guillaume Charras leitet eine Forschungsgruppe am London Centre for Nanotechnology. Ihr Ziel ist es, die grundlegenden mechanischen Eigenschaften von Zellen und Geweben zu verstehen. Sie interessieren sich insbesondere für das Zusammenspiel von Signaltransduktion und Zellmechanik und wie mechanische Veränderungen die zelluläre und embryonale Morphogenese steuern.

Die Gruppe arbeitet bereits seit über einem Jahrzehnt mit Rasterkraftmikroskopen von JPK Instruments. Mit Rasterkraftmikroskopie können mechanische Eigenschaften quantitativ erfasst werden, wobei der Verfahrweg des AFMs in z-Richtung Zellmessungen ursprünglich begrenzte. Der erweiterte z-Bereich des JPK CellHesion® 200 ermöglicht auch Studien an kultivierten und embryonalen Geweben. Mit einem erst kürzlich erworbenen JPK NanoWizard® 4 BioScience AFM möchte die Gruppe Veränderungen in der Organisation des sub-membranösen Aktin-Kortexes, der Hauptdeterminante für die Zellform, während der Mitose abbilden. Das soll die Ergebnisse aus anderen Mikroskopie-Techniken wie der Rasterelektronenmikroskopie (zur Erfassung der Kortexorganisation auf der Ebene einzelner Aktinfilamente), der konfokalen Mikroskopie (zur Lokalisierung von Proteinen während der Morphogenese mit hoher Bildrate) und der Optogenetik (zur Manipulation der Signaltransduktion) ergänzen.

Professor Charras, auf die Frage, warum er die Instrumente von JPK besonders gerne ein-setzt: "Ich finde ihre Systeme zuverlässig und sehr benutzerfreundlich. Der lange z-Bereich ist für unsere Arbeit unerlässlich, und durch die Möglichkeit, dies mit Multi-Position-Imaging zu kombinieren, können wir die maximale Datenmenge aus jedem Experiment herausholen. Man kann das in einer Veröffentlichung sehen, in der wir Messungen mit dem CellHesion® 200 vorstellen. Dieses hat einen extra langen Piezobereich von 100 μm in z-Richtung, der es uns ermöglichte, Kraft-Indentationsdaten über einen großen Indentationsbereich hinweg zu sammeln und gleichzeitig gewährleistete, dass sich die Spitze bei des Retraktion wieder vollständig von der Probe trennt.1 Außerdem ist es uns durch den langen z-Bereich gelungen, Veränderungen der mechanischen Eigenschaften bei lebenden Froschembryonen zu beobachten 2. Nachdem wir hier nun unser neuestes JPK NanoWizard® AFM stehen haben, sind wir optimistisch, dass in den kommenden Monaten weitere bahnbrechende Publikationen erscheinen werden".

JPK Instruments entwickelt, konstruiert und fertigt Instrumente in Deutschland zu weltweit anerkannten Standards der deutschen Feinmechanik, Qualität und Funktionalität. Für weitere Einzelheiten über das NanoWizard® AFM-System und Zubehör, sowie weitere Produkte und Anwendungen besuchen Sie uns auf der JPK Webseite www.jpk.com, YouTube, Facebook oder LinkedIn.

Literaturangaben

1 Formulation of adherens junctions leads to the emergence of a tissue-level tension in epithelial monolayers, A R Harris, A Daeden and G T Charras, Journal of Cell Science (2014) 127, 2507-2517 doi:10.1242/jcs.142349
2 Tissue stiffening coordinates morphogenesis by triggering collective cell migration in vivo. E H Barriga, K Franze, G T Charras, R Mayor. Nature. 2018 Feb 14. doi: 10.1038/nature25742

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JPK reports on research by Professor Guillaume Charras and his team to understand the fundamental mechanical properties of cells & tissues at the London Centre for Nanotechnology

JPK Instruments, a world-leading manufacturer of nanoanalytic instrumentation for research in life sciences and soft matter, reports on the research of Professor Guillaume Charras of the London Centre for Nanotechnology where he is applying AFM to understand the fundamental mechanical properties of cells and tissues.

Professor Guillaume Charras leads a research group at the London Centre for Nanotechnology. Their overall goal is to understand fundamental mechanical properties of cells and tissues. They are particularly interested in the interplay between signalling and cell mechanics and how mechanical changes govern cellular and embryonic morphogenesis.

The group have used AFM from JPK Instruments for over a decade. Indeed, AFM offers a quantitative method for estimating mechanical properties. While originally restricted cellular mechanics, the expanded z-range of JPK’s CellHesion® 200 allows studies on cultured and embryonic tissues. The recent purchase of a NanoWizard® 4 BioScience AFM system will allow the group to image changes in the organization of the submembranous actin cortex (the main determinant of cell shape) as the cell undergoes mitosis. This will complement other microscopies such as scanning electron microscopy for the cortex organization at the scale of single actin filaments, confocal microscopy for imaging localization of proteins during morphogenesis at high frame rate, and optogenetics to manipulate cell signalling.

When asked about why he particularly likes using the instrumentation from JPK, Professor Charras said, "I find their systems reliable and very user-friendly. The large z range is vital to our work and the possibility to combine this with multi-position imaging allows us to extract the maximum amount of data from each experiment. We have illustrated this in a paper when we used the CellHesion® 200. This has an extra long z piezo range of 100 μm that enabled us to collect force-indentation data over a large indentation range while ensuring there was separation of the tip from the sample during retraction.1 Furthermore, the long z-range has now made it possible to monitor changes in mechanical properties in living frog embryos2. With the arrival of our latest NanoWizard® AFM, we are optimistic of more ground-breaking publications in the coming months."

For more details about JPK’s AFM systems and their applications for the materials, life & nano sciences, please contact JPK on +49 30726243 500. Alternatively, please visit the web site: www.jpk.com or see more on Facebook: www.jpk.com/facebook and on You Tube: http://www.youtube.com/jpkinstruments.

For a high resolution copy of the image, either right click to download or contact Jezz Leckenby at Talking Science.

References
1 Formulation of adherens junctions leads to the emergence of a tissue-level tension in epithelial monolayers, A R Harris, A Daeden and G T Charras, Journal of Cell Science (2014) 127, 2507–2517 doi:10.1242/jcs.142349
2 Tissue stiffening coordinates morphogenesis by triggering collective cell migration in vivo. E H Barriga, K Franze, G T Charras, R Mayor. Nature. 2018 Feb 14. doi: 10.1038/nature25742

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JPK berichtet über den Einsatz der CellHesion®- und NanoWizard®-Rasterkraftmikroskope am London Centre for Nanotechnology zur Untersuchung der mechanischen Eigenschaften von Zellen und Geweben

JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten für den "Life Sciences"- und "Soft Matter"-Bereich, berichtet über den Einsatz der CellHesion®- und NanoWizard®-Rasterkraftmikroskope (engl. Atomic Force Microscope – AFM) in der Forschungsgruppe von Professor Guillaume Charras am London Centre for Nanotechnology. Die Gruppe setzt Rasterkraftmikrokopie ein, um die grundlegenden mechanischen Eigenschaften von Zellen und Geweben zu verstehen.

Professor Guillaume Charras leitet eine Forschungsgruppe am London Centre for Nanotechnology. Ihr Ziel ist es, die grundlegenden mechanischen Eigenschaften von Zellen und Geweben zu verstehen. Sie interessieren sich insbesondere für das Zusammenspiel von Signaltransduktion und Zellmechanik und wie mechanische Veränderungen die zelluläre und embryonale Morphogenese steuern.

Die Gruppe arbeitet bereits seit über einem Jahrzehnt mit Rasterkraftmikroskopen von JPK Instruments. Mit Rasterkraftmikroskopie können mechanische Eigenschaften quantitativ erfasst werden, wobei der Verfahrweg des AFMs in z-Richtung Zellmessungen ursprünglich begrenzte. Der erweiterte z-Bereich des JPK CellHesion® 200 ermöglicht auch Studien an kultivierten und embryonalen Geweben. Mit einem erst kürzlich erworbenen JPK NanoWizard® 4 BioScience AFM möchte die Gruppe Veränderungen in der Organisation des sub-membranösen Aktin-Kortexes, der Hauptdeterminante für die Zellform, während der Mitose abbilden. Das soll die Ergebnisse aus anderen Mikroskopie-Techniken wie der Rasterelektronenmikroskopie (zur Erfassung der Kortexorganisation auf der Ebene einzelner Aktinfilamente), der konfokalen Mikroskopie (zur Lokalisierung von Proteinen während der Morphogenese mit hoher Bildrate) und der Optogenetik (zur Manipulation der Signaltransduktion) ergänzen.

Professor Charras, auf die Frage, warum er die Instrumente von JPK besonders gerne ein-setzt: "Ich finde ihre Systeme zuverlässig und sehr benutzerfreundlich. Der lange z-Bereich ist für unsere Arbeit unerlässlich, und durch die Möglichkeit, dies mit Multi-Position-Imaging zu kombinieren, können wir die maximale Datenmenge aus jedem Experiment herausholen. Man kann das in einer Veröffentlichung sehen, in der wir Messungen mit dem CellHesion® 200 vorstellen. Dieses hat einen extra langen Piezobereich von 100 μm in z-Richtung, der es uns ermöglichte, Kraft-Indentationsdaten über einen großen Indentationsbereich hinweg zu sammeln und gleichzeitig gewährleistete, dass sich die Spitze bei des Retraktion wieder vollständig von der Probe trennt.1 Außerdem ist es uns durch den langen z-Bereich gelungen, Veränderungen der mechanischen Eigenschaften bei lebenden Froschembryonen zu beobachten 2. Nachdem wir hier nun unser neuestes JPK NanoWizard® AFM stehen haben, sind wir optimistisch, dass in den kommenden Monaten weitere bahnbrechende Publikationen erscheinen werden".

JPK Instruments entwickelt, konstruiert und fertigt Instrumente in Deutschland zu weltweit anerkannten Standards der deutschen Feinmechanik, Qualität und Funktionalität. Für weitere Einzelheiten über das NanoWizard® AFM-System und Zubehör, sowie weitere Produkte und Anwendungen besuchen Sie uns auf der JPK Webseite www.jpk.com, YouTube, Facebook oder LinkedIn.

Literaturangaben

1 Formulation of adherens junctions leads to the emergence of a tissue-level tension in epithelial monolayers, A R Harris, A Daeden and G T Charras, Journal of Cell Science (2014) 127, 2507-2517 doi:10.1242/jcs.142349
2 Tissue stiffening coordinates morphogenesis by triggering collective cell migration in vivo. E H Barriga, K Franze, G T Charras, R Mayor. Nature. 2018 Feb 14. doi: 10.1038/nature25742

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Elmos: Positiver Jahresbeginn – Prognose bestätigt

Die Elmos Semiconductor AG (FSE: ELG) erzielte im ersten Quartal 2018 gegenüber dem Vorjahreszeitraum ein Umsatzwachstum von 4,5% auf 63,5 Mio. Euro. Die EBIT-Marge steigerte sich auf 12,4%, dies entspricht einem EBIT von 7,9 Mio. Euro. Die Investitionen betrugen im Berichtszeitraum 9,0 Mio. Euro bzw. 14,2% vom Umsatz. Der bereinigter Free Cashflow belief sich auf -7,1 Mio. Euro.

„Das Jahr ist entsprechend unserer Erwartungen gestartet. Die Auftragslage ist unverändert gut und stimmt uns für die weiteren Quartale positiv. Unsere Produkte überzeugen am Markt“, sagt Dr. Anton Mindl, Vorstandsvorsitzender der Elmos Semiconductor AG.

Elmos bestätigt die Prognose und rechnet für 2018 mit einem Umsatzwachstum von 8% bis 12%. Die EBIT-Marge soll zwischen 13% und 17% liegen. Die Investitionen werden, wie im Vorjahr, weniger als 15% des Umsatzes betragen. Aufgrund dieser Vorleistungen für weiteres Wachstum erwarten wir einen negativen bereinigten Free Cashflow für 2018. Voraussetzung für diese Prognose sind unverändert gute wirtschaftliche Rahmenbedingungen. Der Prognose liegt ein Wechselkursverhältnis von 1,20 US-Dollar/Euro zu Grunde.

Definitionen ausgewählter Finanzkennzahlen

– Bereinigter Free Cashflow: Cashflow aus der betrieblichen Tätigkeit, abzüglich Investitionen in/zuzüglich Abgänge von immaterielle/n Vermögenswerte/n und Sachanlagen
– Investitionen: Investitionen in immaterielle Vermögenswerte und Sachanlagen abzgl. aktivierten Entwicklungsleistungen (Vorjahreswerte gem. neuer Definition angepasst)
– Weitere Erläuterungen zu den verwendeten Kennzahlen finden Sie im Geschäftsbericht 2017 der Elmos Semiconductor AG unter www.elmos.com

Hinweis

Diese Mitteilung enthält in die Zukunft gerichtete Aussagen, die auf Annahmen und Schätzungen der Unternehmensleitung von Elmos beruhen. Obwohl wir annehmen, dass die Erwartungen dieser vorausschauenden Aussagen realistisch sind, können wir nicht dafür garantieren, dass die Erwartungen sich auch als richtig erweisen. Die Annahmen können Risiken und Unsicherheiten bergen, die dazu führen können, dass die tatsächlichen Ergebnisse wesentlich von den vorausschauenden Aussagen abweichen. Zu den Faktoren, die solche Abweichungen verursachen können, gehören u.a. Veränderungen im wirtschaftlichen und geschäftlichen Umfeld, Wechselkurs- und Zinsschwankungen, Einführungen von Konkurrenzprodukten, mangelnde Akzeptanz neuer Produkte und Änderungen der Geschäftsstrategie. Eine Aktualisierung der vorausschauenden Aussagen durch Elmos ist weder geplant noch übernimmt Elmos die Verpflichtung dazu.

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Elmos: Schneller BLDC-Motor Controller mit 16-Bit-CPU

Der Elmos-IC E523.06 ist ein BLDC-Motor System-in-a-Chip, bestehend aus einem Gate-Treiber für das 12 V Bordnetz im Automobil kombiniert mit einem leistungsfähigen 16-Bit-CPU-Kern. Er steuert bis zu 3 NMOS-Halbbrücken von BLDC-, DC-Motoren oder anderen Lasten. Die CPU-Architektur und Motortreiber-Peripherien sind optimiert für das Single Shunt FOC-Verfahren (Field Oriented Control).

Das IC errechnet die Motorposition und die Kommutierungszeitpunkte ohne zusätzliche Hall-Sensoren. Als einziges Messelement wird in der externen Beschaltung ein Shunt eingesetzt. Der Baustein beinhaltet Schaltungen, die  vor Überstrom (die Schwelle ist stufenlos einstellbar), Übertemperatur, Über- und Unterspannungen und Kurzschlüssen (programmierbare Schwellwerte für jeden FET) wirksam schützen.

Neben dem kostengünstigen Aufbau der Zielapplikation unterstützt das IC die End-of-Line-Programmierung über JTAG oder High-Speed-LIN. Fahrzeuginterne Updates können mit dem Bootloader durchgeführt werden.

Mögliche Applikationen umfassen: Kühlerventilatoren, Klimalüfter und Pumpen (Kraftstoff, Hydraulik, Öl oder Wasser).

Für eine hohe Systemleistung sorgt die 16-Bit-CPU in Verbindung mit Coprozessoren für ADC-Tasking und PWM-Generierung. Die geschlossene Regelschleife wird durch diese Hardware-Beschleunigung so schnell abgearbeitet, dass die Berechnung des vollständigen Motormodells innerhalb eines PWM-Zyklus möglich wird. Ein integrierter Strommessverstärker mit hoher Bandbreite übernimmt dabei die Verarbeitung der Stromwerte. Die Gesamtheit der Features optimieren Systemleistung, Systemzuverlässigkeit, Stromaufnahme und Entwicklungszeit.

Die Kommunikation im automobilen Netzwerk kann über einen integrierten LIN-Transceiver oder über eine PWM-Schnittstelle realisiert werden.

Der IC ist nach AEC Q-100 Grade 0 bis zu 150°C qualifiziert.

Für mehr Informationen schreiben Sie bitte eine E-Mail an sales@elmos.com mit dem Betreff „E523.06“ oder nehmen per Telefon Kontakt mit uns auf: + 49 231 7549 100.

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Silicon Microstructures: Kalibrierter IntraSense™-Sensor vereinfacht In-vivo Druckmessungen

SMI (Silicon Microstructures, Inc.), eine Tochtergesellschaft der Elmos, stellt die nächste Generation der IntraSenseTM-Drucksensoren vor. Die neue Generation der IntraSenseTM- Produktlinie „IntraSenseTM Calibrated“ ermöglicht eine vollständig temperaturkompensierte und druckkalibrierte In-vivo Druckmessung. Damit vereinfacht sich die Einrichtung und Verwendung erheblich. Der unkalibrierte IntraSense™-Sensor, welcher im letzten Jahr auf den Markt kam, hat branchenweit positive Rückmeldungen erhalten.

IntraSense™ ist der erste in Serienproduktion erhältliche Drucksensor, der in 1-French-Schläuche passt und über vormontierte Anschlüsse für eine einfache Integration verfügt. Mit einem Kalibrierungsboard, das jetzt am proximalen Ende des Geräts zur Verfügung steht, ist das Einrichten und Auslesen noch einfacher, da sowohl verstärkte analoge als auch digitale Ausgänge an einem 5-poligen Stecker angeschlossen sind. Die extrem kleine Größe des Sensors ermöglicht die Anbringung sowohl innerhalb von Kathetern, Endoskopen und anderen medizinischen Geräten mit knappen Platzverhältnissen, als auch außerhalb an einer Katheterwand. Zusätzlich zu den etablierten Druckmessverfahren in Bereich der Kardiologie und Neurologie ermöglicht IntraSense™ neue Anwendungen in der Urologie, HNO, reproduktiven Gesundheit, Biopsien und anderen medizinischen Bereichen.

Die Kalibrierung und das anschließendes Eintauchen in eine Kochsalzlösung gewährleistet eine stabile Leistung (<1mmHg Output-Änderung in 37°C Kochsalzlösung) für mindestens zwölf Stunden. Die Sensoren sind über einen Druckbereich von -300mmHg bis +1300mmHg und von 0°C bis 101°C kalibriert. Zudem können verstärkte Analogausgänge oder eine Standard-I2C-Digitalschnittstelle für eine einfache Systemintegration verwendet werden.

„Bislang war es für Chirurgen eine Herausforderung, den Temperaturwechsel der Sensoren von Raum- auf Körpertemperatur beim Einführen in den Körper optimal auszugleichen“, sagt Dr. Justin Gaynor, VP der IntraSense™-Produkte bei SMI. „Mit den kalibrierten IntraSense™-Produkten ist dies jetzt ohne kostspielige Ausstattung oder Echtzeitkalibrierung möglich.“

Über SMI
SMI ist eine Tochtergesellschaft der Elmos Semiconductor AG. SMI ist nach ISO / TS 16949: 2009 zertifiziert und ein führender Entwickler und Hersteller von MEMS-basierten Drucksensoren für unterschiedliche Märkte. Das Unternehmen verfügt über 25 Jahre Erfahrung in der Entwicklung und Produktion von Drucksensoren. SMI bietet die empfindlichsten und kleinsten MEMS-Drucksensoren, die derzeit weltweit erhältlich sind.

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Active Shims for Nanometer Resolution and Long-Term Stability: Adjusting with Piezo-Based „Shims“

If a target or an actual dimension between two components inside precision machines changes, for instance in semiconductor manufacturing, measuring applications or inspection systems, readjustment may be necessary. An example of this would be when the machine is started up at the user’s location, and initial settings, drifting or changes in tolerances need to be compensated after installation. The disadvantage of classical shims that are ground exactly to the required dimension, is that they need to be inserted mechanically. Furthermore, unlimited fine adjustment is not always possible and once the dimension has been fixed, it is often very difficult to change it afterwards. PI (Physik Instrumente) has found the perfect solution for this and developed the PIRest piezo-based "shims". Once they have been installed into the machine, the active shims not only make it possible to readjust the gap between two components at any time, but also achieve this with nanometer precision.

The piezo-based shims are built into the machine during its construction; they are available – in exactly the same way as other piezo actuators from the same manufacturer – in virtually any shapes and sizes. The static gap at the actuator can be set by applying voltage. PI provides an easy-to-use power supply for this adjustment process together with the matching control. After adjusting, the desired position remains stable without power and the power supply can then be disconnected. In the case of standard products, the maximum displacement is 35 µm; but skillful combination of the active shims makes it possible to adjust in up to six axes.

The ability to adjust at inaccessible locations has been simplified considerably, even more so because piezo-based shims can hold heavy loads of several tons. If required, active shims can also be combined with classical piezo actuators, e.g., for dynamic vibration compensation. Typical applications include for example, readjusting the focal plane during a measuring or scanning process as well as controlling a laser beam in measuring technology or materials processing.

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Active Shims für Nanometerauflösung und Langzeitstabilität: Justage mit piezobasierten „Unterlegscheiben“

Ändert sich innerhalb von Präzisionsmaschinen z. B. für die Halbleiterfertigung, Metrologie Anwendungen oder Inspektionssysteme ein Soll- oder Ist-Maß zwischen zwei Komponenten, kann es erforderlich sein, dieses nachzujustieren. Das ist z. B. dann der Fall, wenn die Maschine beim Anwender in Betrieb geht und erstmaliges Setzen nach der Installation, Driften oder Toleranzveränderungen auszugleichen sind. Klassische, auf genaue Abstände geschliffene Unterlegscheiben haben hier den Nachteil, dass sie mechanisch eingefügt werden müssen. Außerdem ist diese Justierung nicht beliebig fein möglich und das einmal festgelegte Maß lässt sich nur schwer nachträglich ändern. Abhilfe schaffen nun die von Physik Instrumente (PI) entwickelten piezobasierten „Unterlegscheiben“ PIRest. Einmal in der Maschine eingebaut, lässt sich mit Hilfe dieser Active Shims der Abstand zwischen zwei Bauteilen jederzeit mit Nanometergenauigkeit nachjustieren.

Die piezobasierten Unterlegscheiben werden bereits bei der Konstruktion einer Maschine eingebaut; dabei sind sie – genauso wie andere Piezo-Aktoren des gleichen Herstellers – in nahezu beliebige Formen und Größen erhältlich. Der statische Abstand lässt sich durch Anlegen einer Versorgungsspannung am Aktor einstellen. PI bietet für diesen Justageprozess eine einfach zu verwendende Spannungsversorgung mit der passenden Ansteuerung an. Die gewünschte Position wird nach dem Justieren dann ohne Spannung langzeitstabil gehalten, die Spannungsversorgung kann entfernt werden. Bei Standardprodukten liegt die maximale Auslenkung bei 35 µm; durch geschickte Kombinationen der Active Shims ist die Ausrichtung in bis zu sechs Achsen möglich.

Besonders die Justierung an unzugänglichen Stellen vereinfacht sich so erheblich, zumal die piezobasierten Unterlegscheiben selbst tonnenschwere Lasten halten. Bei Bedarf lassen sich die Active Shims zudem mit klassischen Piezoaktoren kombinieren, z. B. für eine dynamische Schwingungskompensation. Typische Anwendungen dafür sind beispielsweise das Nachstellen der Brennebene während eines Mess- oder Scanvorgangs sowie die Steuerung eines Laserstrahls in der Messtechnik oder Materialbearbeitung.

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Triax. Ultraminiatur IEPE Beschleunigungssensoren: Hermetisch abgedichtet und Low Outgassing!

Heutige Bauteile werden immer kleiner, erfordern jedoch mehr Entwicklungstests als je zuvor. Die Serie 3133D zeichnet sich durch ihre Miniaturgröße aus (6,1mm x 6,1mm x 5,9mm), wodurch sie in Räumen montiert werden kann, die für andere Arten von triaxialen Beschleunigungssensoren unzugänglich sind. Sie verfügt über ein hermetisch abgedichtetes Titangehäuse, ist feuchtigkeitsbeständig und wiegt nur 0,8 Gramm. Sie wird mit einer Empfindlichkeit von 0.25mV / g zu 10mV / g angeboten und kann an das Testobjekt geklebt werden. Ein ca. 0,92m langes Koaxialkabel mit einem 4 Pin Stecker ist fest angebracht und bietet Anschlussmöglichkeiten mit verschiedenen Verlängerungskabeltypen zum Anschluss an IEPE-Stromquellen.

Der Sensor erzeugt in jeder der drei orthogonalen Achsen eine elektrostatische Ladung, indem ein Piezokristall im Planar-Scher-Modus (Planar Shear Mode) belastet wird. Aufgrund der hohen Kristallsteifigkeit sowie der sehr geringen Masse hat der 3133Dx eine hohe Resonanzfrequenz von mehr als 27 kHz. Infolgedessen kann er verwendet werden, um hochfrequente Schwingungen mit sehr geringen Fehlern zu messen. Für Kunden, die Plug-and-Play-Identifizierung benötigen, ist zudem eine TEDS-Version verfügbar.

Bei den Komponenten (Klebstoffe, Kabel,…) des Sensors wurde – speziell für den Einsatz in der Raumfahrtindustrie – auf geringes Ausgasverhalten (Low Outgassing) geachtet.
Darüber hinaus eignet sich die 3133D Serie ideal für die Stoß- und Vibrationsprüfung von kleinen, leichten Prüflingen wie Leiterplatten, auf Leiterplatten montierten Bauteilen und anderen Miniaturprodukten.
Sie ist in der Lage, in einer Vielzahl von Anwendungsumgebungen zu arbeiten, darunter ESS (Environmental Stress Screening), HALT / HASS, Modal- und Strukturanalyse, Produktreaktionstest und allgemeinen triaxialen Vibrationstests.

Weitere Informationen im Internet unter www.sensoren.de,
Begriffserklärungen im Sensorlexikon unter www.sensoren.info 

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